▲ 안리쓰의 신호 품질 분석기 MP1900A
안리쓰 코퍼레이션이 디지털 연결 테스트 솔루션 및 서비스 분야의 세계 최고의 기업인 GRL (Granite River Labs)과 공동 개발한 PCI Express® (PCIe®) 5.0 자동화 테스트 솔루션은 PCI-SIG®에서 ‘골드 스위트’ 제품 적합성 테스트를 승인받았다.
이 솔루션은 안리쓰의 신호 품질 분석기 MP1900A BERT 시리즈와 GRL의 PCI Express 5.0 CEM 사양 수신기 및 PLL 피킹 및 대역폭 테스트 자동화 소프트웨어를 결합했다. 안리쓰와 GRL 솔루션은 제품 개발자에게 텍트로닉스 또는 키사이트 실시간 오실로스코프로 PCIe 5.0 호스트 및 애드인 카드 설계를 테스트할 수 있는 빠르고 유연한 방법을 제공한다.
이 솔루션은 GRL의 PCIe 5.0 CEM 송신기 테스트 자동화 소프트웨어를 보완하며, PCI-SIG에서도 ‘Gold Suite’ 적합성 테스트를 승인했으며 PCIe 5.0 기반 사양 수신기 소프트웨어는 텍트로닉스 및 키사이트 스코프와 모두 호환된다.
◇장비 교정 및 테스트 시간 단축
GRL 소프트웨어의 간단한 사용자 인터페이스는 복잡한 PCIe 사양 테스트를 자동화하고, 장비 교정 및 테스트에 필요한 시간을 크게 줄인다. PCIe 5.0 CEM 사양에 따라 이 소프트웨어는 스트레스 받는 수신기 Eye 높이와 Eye 폭을 달성하기 위해 신호 손상의 자동 보정을 특징으로 하며 8, 16, 32GT/s에서 PCIe TX 및 RX 링크 균등화(링크 EQ)와 PLL 피킹 및 대역폭 테스트를 수행한다. 모든 PCIe CEM 규정 준수 테스트는 단일 소프트웨어 프레임워크에서 자동화된다.
◇테스트 인프라 비용 관리
안리쓰 신호 품질 분석기 MP1900A 시리즈는 200G/400G/800G 이더넷 및 PCI Express 4.0/5.0 사양, USB3.2, USB4™ 및 Thunderbolt™와 같은 고속버스 인터페이스와 같은 차세대 네트워크 인터페이스를 설계하고 테스트하기 위한 멀티 채널 BERT다. 내장된 PPG (펄스 패턴 발생기) 및 에러 감지기(ED)를 통해 MP1900A BERT는 고유 낮은 지터(115fs)를 이용해 고품질 파형을 생성할 수 있다. 이 계측기는 또한 통합 지터 소스(SJ, RJ, SSC, BUJ) 생성 및 CM-I/DM-I/백색 잡음 소스 생성을 제공한다. 컴플라이언스 테스트, 마진 테스트 및 문제 해결과 함께 이 장치는 Link Training 및 LTSSM (Link Training Status State Machine) 분석 기능을 비롯한 다양한 기타 애플리케이션도 지원한다. 데이터 센터 200G/400G/800G 이더넷 시스템에서 사용되는 PAM4 광 모듈, SERDES 및 기타 기술적인 부분 외에도 MP1900A BERT는 최신 PCI-SIG 표준을 준수하기 위해 개발 중인 PCIe 6.0 (PAM4 32 Gbaud) 디바이스도 테스트한다. 이를 통해 기업은 테스트 인프라 비용을 관리할 수 있다.
PCI-SIG 회장 겸 사장인 Al Yanes는 “PCI-SIG는 PCI Express 기술 개발에 대한 GRL의 지속적인 기여에 감사를 표한다. GRL의 PCIe 5.0 컴플라이언스 테스트 지원으로 우리 회원들이 규격을 준수하고, 상호 운용할 수 있으며, 애플리케이션에서 강력한 제품을 시장에 제공할 수 있다”고 말했다.
안리쓰의 서비스 인프라 솔루션 사업부 총괄 매니저인 코헤이 오타(Kohei Ota)는 “GRL과 안리쓰의 파트너십은 다양한 범위의 공급 업체를 위한 다목적 PCI Express 컴플라이언스 테스트 환경을 제공한다”며 “앞으로 우리는 5G, 클라우드 컴퓨팅, 하이퍼스케일 데이터 센터의 혁신을 주도하기 위해 64GT/s의 PCIe 6.0 사양도 지원할 계획”이라고 밝혔다.
GRL 엔지니어링 부사장 Miki Takahashi은 “GRL은 PCI-SIG 및 안리쓰 코퍼레이션과 긴밀히 협력해 고객이 회사 제품이 전체 전자 에코 시스템에서 원활하게 상호 운용되도록 돕는다”고 설명했다.
이어 “PCI Express 5.0 사양에 대한 자동화된 테스트 솔루션은 이런 비전의 일부다. PCIe 기반 및 CEM 사양에 대한 테스트 설계를 간소화하고, 가속하며 제품 개발자에게 장비를 선택할 수 있는 전례 없는 유연성을 제공하고, 기술적 위험을 줄이고 일관된 테스트 결과를 제공한다”고 덧붙였다.
